国家知识产权局信息显示，飞测思凯浦（上海）半导体科技有限公司申请一项名为“一种图像对位方法、装置及检测方法”的专利，公开号CN122675650A，申请日期为2026年5月。

专利摘要显示，本申请公开了一种图像对位方法、装置及检测方法，属于半导体检测技术领域。所述方法包括：基于参考图像和待测物的第一待测图像确定初始对位参数，并按照所述初始对位参数对所述第一待测图像进行初始对位，得到第二待测图像；基于所述第二待测图像确定边缘区域；基于所述边缘区域和所述参考图像确定所述第二待测图像相对于所述参考图像的角度偏移量；按照所述角度偏移量对所述第二待测图像进行旋转，得到第三待测图像；基于所述参考图像和所述第三待测图像确定修正对位参数，并按照所述修正对位参数对所述第三待测图像进行修正对位。本申请通过先初始对位，之后按照角度偏移量进行旋转，最后进行修正对位，能够提高图像对位的精确度。

天眼查资料显示，飞测思凯浦（上海）半导体科技有限公司，成立于2024年，位于上海市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本10000万人民币。通过天眼查大数据分析，飞测思凯浦（上海）半导体科技有限公司参与招投标项目3次，财产线索方面有商标信息24条，专利信息25条，此外企业还拥有行政许可2个。

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来源：市场资讯