中安电子取得用于晶圆老化的测试台专利，提高测试效率_资讯

中安电子取得用于晶圆老化的测试台专利，提高测试效率

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2026-01-15 03:21:43

国家知识产权局信息显示，杭州中安电子股份有限公司取得一项名为“一种用于晶圆老化的测试台”的专利，授权公告号CN223796648U，申请日期为2025年1月。

专利摘要显示，一种用于晶圆老化的测试台，涉及晶圆测试设备技术领域，用于对晶圆老化测试夹具内的晶圆进行老化测试，测试台包括测试驱动板模组、升降模组、平移模组和承载台，测试驱动板模组包括驱动板底板、驱动板组件、驱动转接探针板，升降模组包括测试台底板及其两侧的升降气缸组件，平移模组包括平移底板及其底部的平移气缸组件，承载台包括夹具载板及夹具垫板。本实用新型的设备体积小，使得占用空间小，另外设备结构模块化设计，便于测试人员操作，提高测试效率，实现了大批量测试。

天眼查资料显示，杭州中安电子股份有限公司，成立于1999年，位于杭州市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本3374.9976万人民币。通过天眼查大数据分析，杭州中安电子股份有限公司共对外投资了3家企业，参与招投标项目217次，财产线索方面有商标信息1条，专利信息68条，此外企业还拥有行政许可21个。

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来源：市场资讯

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中安电子取得用于晶圆老化的测试台专利，提高测试效率

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