长川科技公布“测试信号的采样方法、系统、设备和存储介质”专利_资讯

长川科技公布“测试信号的采样方法、系统、设备和存储介质”专利

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2025-10-04 10:41:17

天眼查APP显示，近日，杭州长川科技股份有限公司申请的“测试信号的采样方法、系统、设备和存储介质”专利公布。摘要显示，本公开提供了一种测试信号的采样方法、系统、设备和存储介质，以采样芯片的硬件时钟能够准确识别各预设采样周期为前提，计算硬件时钟的时间计量单位，即目标时间单元，在确保边沿差为目标时间单元整数倍的情况下，基于目标时间单元调整硬件时钟并基于测试工程文件进行采样设置，使得芯片硬件时钟以目标时间单元为计量单位进行计时可以准确识别出各预设采样周期内信号采样配置边沿对应的采样点，从而实现执行一次能够对测试工程配置的所有周期的所有采样点进行采样，无需多次调整采样设备的采样参数并分别对不同层级的周期进行采样，在确保信号采样准确性的前提下，可以提高芯片测试效率。

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