上海集成电路研发中心申请图像量测相关专利，提高量测效率_资讯

上海集成电路研发中心申请图像量测相关专利，提高量测效率

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2025-07-01 22:00:27

金融界2025年7月1日消息，国家知识产权局信息显示，上海集成电路研发中心有限公司申请一项名为“图像量测方法、语义分割模型的训练方法及图像量测设备”的专利，公开号CN120235926A，申请日期为2023年12月。

专利摘要显示，本申请提供一种图像量测方法、语义分割模型的训练方法及图像量测设备。该图像量测方法包括：获取多张待测图像以及预设的多个量测模板；对所述待测图像进行分类，获取多个图像集；对于任一图像集，确定与所述图像集相对应的量测模板；将所述图像集包含的每一张待测图像输入至语义分割模型，获取每一张待测图像对应的待测掩模图；基于所述图像集相对应的量测模板对所述待测掩模图进行量测，获取量测信息。

天眼查资料显示，上海集成电路研发中心有限公司，成立于2002年，位于上海市，是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本30060万人民币。通过天眼查大数据分析，上海集成电路研发中心有限公司共对外投资了6家企业，参与招投标项目293次，财产线索方面有商标信息96条，专利信息2099条，此外企业还拥有行政许可87个。

来源：金融界

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