金融界2025年6月13日消息,国家知识产权局信息显示,重庆芯联微电子有限公司申请一项名为“一种金属栅极的制备方法”的专利,公开号CN120152362A,申请日期为2025年02月。
专利摘要显示,本发明提供一种金属栅极的制备方法,包括步骤:提供衬底,形成伪栅极结构于衬底上,形成包覆栅氧化层与伪栅极层的接触刻蚀停止层于衬底上,形成显露伪栅极结构的层间介质层于接触刻蚀停止层上,去除伪栅极结构,得到伪栅极沟槽,依次形成高K介质层、功函数层及金属栅极于伪栅极沟槽中,高K介质层覆盖伪栅极沟槽的底面,功函数层位于高K介质层上并覆盖伪栅极沟槽的侧墙,去除部分功函数层与部分金属栅极以形成凹槽,形成补充层于凹槽中并桥接凹槽两侧的接触刻蚀停止层,且补充层的材料与接触刻蚀停止层的材料相同。
天眼查资料显示,重庆芯联微电子有限公司,成立于2023年,位于重庆市,是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本870000万人民币。通过天眼查大数据分析,重庆芯联微电子有限公司参与招投标项目708次,专利信息112条,此外企业还拥有行政许可12个。
来源:金融界